Sensofar共聚焦白光干涉儀光譜反射技術

更新時間：2024-11-25

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透明層沉積在表面上時，其反射率會變化。該系統獲取可見范圍內樣本的反射光譜，并與軟件計算的模擬光譜進行比較，對層厚進行修改，直到找到匹配的厚度。對于薄膜，厚度與光波長類似，我們沿著光譜獲得波浪狀的反射率響應。

主要特征

從 50 nm 到 1.5 μm 厚的透明薄膜可在不到 5 秒的時間內測得

從 50 nm 到 1.5 μm 厚的透明薄膜

不到 5 秒內采集

一個物鏡可覆蓋整個范圍

不同光斑大小 (3.5 μm 到 40 μm)

服務熱線：17701039158

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