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僅需鼠標即可完成所有操作，無須對中光闌等復雜步驟；
抽真空時間小于90秒；
信號采集帶寬10M，掃描速度快；
四分割背散射電子探測器（多種成像模式）、二次電子探測器；
國內生產、銷售、售后一體化服務；
藥物檢測 
生物檢測
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產品簡介
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化
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產品介紹
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內連續可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實現掃描電鏡內的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。
原位拉伸臺參數
載荷范圍：0-1000N
位移分辨率：20nm
加熱模塊：可選
加載功能：拉伸、壓縮、三點彎曲
電鏡主機特色
僅需鼠標即可完成所有操作，無須對中光闌等復雜步驟；
亮度/對比度一鍵自適應，自動/手動聚焦;
抽真空時間小于90秒；
標配光學導航，搭配多樣品臺，實現快速找樣及切換樣品；
信號采集帶寬10M，掃描速度快；
視頻模式下實時觀察樣品，操作流暢，無卡頓；
四分割背散射電子探測器（多種成像模式）、二次電子探測器；
BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；
國內生產、銷售、售后一體化服務；
北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設備演示；
應用案例
藥物檢測 生物檢測
半導體檢測 電池檢測