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產品中心三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀三維光學輪廓儀ContourX-200
產品簡介
三維光學輪廓儀ContourX-200提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的**融合，是同類產品中最快、最準確、可重復性最高的非接觸式三維表面計量系統。該計量系統占地面積小，采用更大視場、5MP 數碼攝像頭和全新電動 XY 工作臺，具有**的二維/三維高分辨測量能力
產品分類
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ContourX家族中的高效能臺式光學輪廓儀，配備自動XYZ樣品臺，高級查找表面功能，拼接及大范圍成像功能
三維光學輪廓儀ContourX-200
提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的**融合，是同類產品中最快、最準確、可重復性最高的非接觸式三維表面計量系統。該計量系統占地面積小，采用更大視場、5MP 數碼攝像頭和全新電動 XY 工作臺，具有**的二維/三維高分辨測量能力。ContourX-200 擁有出色的 Z 軸分辨率和精確度，具備布魯克專有白光干涉（WLI）技術廣受業界認可的所有優勢，而且不存在傳統共聚焦顯微鏡和同類普通光學輪廓儀的局限性。
自動化能力可實現更快測量和分析速度的程序。
電動XY 工作臺實現低噪聲高速定量計量。
耐振動緊湊設計提供穩定、可重復的測量。
特點
同類最佳計量技術
三維光學輪廓儀ContourX-200 依托 40 多年的 WLI 自主創新成果，可滿足定量計量所需的低噪聲、高速、準確度和精確度。通過使用多種物鏡和圖案識別，可以亞納米垂直分辨率在多個視場跟蹤特征，為多個行業的質量控制和過程監控應用提供不受尺寸大小影響的結果。ContourX-200 在反射率 0.05% 到 100% 的所有表面情況下都能發揮穩定性能。新增硬件特點包括為獲取更大拼接而創新設計的工作臺；一只 5MP 攝像頭，采用 1200x1000 測量陣列，實現低噪聲、更大視場和更高橫向分辨率。
白光干涉所有物鏡均提供恒定的最佳垂直分辨率。
**泛的應用分析能力
輪廓X-200電動級。
ContourX-200 采用強大的 VisionXpress 和 Vision64 用戶界面，提供數千種自定義分析以提升實驗室和工廠的效率。布魯克全新通用掃描干涉（USI）測量模式可提供全自動、自感知表面紋理、優化信號處理，同時對所分析的表面形貌執行最準確、最實際的計算。該系統采用新款攝像頭，擴大了視場，加上新型電動 XY 工作臺具有的靈活性，提升了處理多種樣品和零部件時的靈活性和效率。軟硬件的**結合，實現**的光學性能，全面****計量技術。