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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar
Sensofar三維共聚焦輪廓儀多功能表面分析 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
Sensofar三維輪廓儀:共聚焦與干涉測量結(jié)合 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
Sensofar三維共聚焦白光干涉儀 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
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Sensofar 輪廓儀:微觀檢測好幫手 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù),適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。
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